Цветков Э.И. Основы математической метрологии

433 руб.

В наличии на складе
В корзину
433 руб.
* - Обязательно для заполнения
Ф.И.О. *
E-Mail *
Телефон *
Комментарий к заказу
Купить в 1 клик
Самовывоз из офиса в СПб:
08.12
Доставим: 10.12
*Указанные даты доставки приведены для Санкт-Петербурга.
О сроках доставки в другие города уточняйте по телефону.
Артикул:39246
Год издания: 2005
Страниц: 512
Тираж: 1000
Формат: 60*90/16
Переплет: пер.
Возраст: 12+
Издательство: Политехника
ISBN: 5-7325-0793-0

Анонс:

Цветков Э.И. Основы математической метрологии

Описание:

В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений. Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.

Отзывы покупателей:

Отправить отзыв

Ваше имя:
*

Ваше e-mail:
*

Текст отзыва:
*
что то нето"*"не то 2